DataMuseum.dk

Presents historical artifacts from the history of:

CR80 Wang WCS documentation floppies

This is an automatic "excavation" of a thematic subset of
artifacts from Datamuseum.dk's BitArchive.

See our Wiki for more about CR80 Wang WCS documentation floppies

Excavated with: AutoArchaeologist - Free & Open Source Software.


top - download

⟦356053b8f⟧ Wang Wps File

    Length: 3945 (0xf69)
    Types: Wang Wps File
    Notes: CPS/TRP/015               
    Names: »4266A «

Derivation

└─⟦fa2167417⟧ Bits:30006184 8" Wang WCS floppy, CR 0396A
    └─ ⟦this⟧ »4266A « 

WangText




…02…CPS/TRP/015

…02… EV/831107…02……02…#
FACTORY ACCEPTANCE TEST REPORT
SITE 10…02……02…CAMPS







                    T̲A̲B̲L̲E̲ ̲O̲F̲ ̲C̲O̲N̲T̲E̲N̲T̲S̲





   1.  GENERAL  .....................................
          4

     1.1 PURPOSE  ...................................
            4
     1.2 APPLICABLE DOCUMENTS  ......................
            4

   2.  TEST OVERVIEW  ...............................
          4

     2.1 CONTRACTUAL REFERENCES  ....................
            4
     2.2 TEST BASELINE  .............................
            4

   3.  TEST GROUNDRULES  ............................
          5

   4.  TEST CONDUCTORS  .............................
          6


   A̲P̲P̲E̲N̲D̲I̲C̲E̲S̲:


   APP. A:   FACTORY ACCEPTANCE TEST SPECIFICATION 
             AND PROCEDURES, SITE 10
             (CPS/TPR/040 (1))  ...................  SEC.
             2

   APP. B:   MINUTES OF MEETING, N/A  .............  SEC.
             3

   APP. C:   TESTLOG, CAMPS SITE 10  ..............  SEC.
             4

   APP. D:   CONFIGURATION LIST, 831102  ..........  SEC.
             5

   APP. E:   RELATED COMPUTER PRINTOUTS  ..........  SEC.
             6



1.       G̲E̲N̲E̲R̲A̲L̲ 



1.1      P̲U̲R̲P̲O̲S̲E̲ 

         The purpose of this document is to describe the result
         of the SITE 10 Factory Acceptance Test, which took
         place at the Christian Rovsing facilities in the period
         831103 to 831104.

1.2      A̲P̲P̲L̲I̲C̲A̲B̲L̲E̲ ̲D̲O̲C̲U̲M̲E̲N̲T̲S̲ 

         a)  Factory Acceptance Test Specification and Procedures,
             Site 10. CPS/TPR/040, issue 1.

         b)  Factory Acceptance Test Specification and Procedures,
             Site 1. CPS/TPR/006, issue 1.1.



2.       T̲E̲S̲T̲ ̲O̲V̲E̲R̲V̲I̲E̲W̲ 



2.1      C̲O̲N̲T̲R̲A̲C̲T̲U̲A̲L̲ ̲R̲E̲F̲E̲R̲E̲N̲C̲E̲S̲ 

         In the period of November 3 and 4 1983, the Site 10
         Hardware Acceptance Test was completed successfully.

         The test is specified in the CAMPS contract special
         provisions paragraph 17.4 and the CAMPS contract appendix
         B paragraph 5-7.5 (Factory Acceptance Test). The activity
         is found on the master schedule as WBS 5.12.4 (H/W).

2.2      T̲E̲S̲T̲ ̲B̲A̲S̲E̲L̲I̲N̲E̲ 

         The Factory Acceptance Test Report (this document)
         is divided into 6 sections:

         1.  Factory Acceptance Test Report, Site 10,
             CPS/TRP/015 (1)


         2.  Factory Acceptance Test Specification and Procedures,
             Site 10,
             CPS/TPR/040 (1)               App. A

         3.  Minutes of Meeting, N/A       App. B

         4.  Testlog, CAMPS, Site 10       App. C

         5.  Configuration List 831102     App. D

         6.  Related Computer Printouts    App. E



3.       T̲E̲S̲T̲ ̲G̲R̲O̲U̲N̲D̲R̲U̲L̲E̲S̲ 



         The Site 10 FAT was based on the sequences of tests
         described in the test procedures in the document "Factory
         Acceptance Test Specification and Procedures, Site
         10". CPS/TPR/040, issue 1.

         During the tests, the result of the test was noted
         in the test procedures and the testlog. If any comments
         were necessary, these were noted in the test procedure
         and testlog as well.

         If a problem was encountered during the test, the problem
         was either categorized as a discrepancy or a defect.
         By a discrepancy is ment a mutually agreed issue showing
         an agreed date for clearance of the issue. By a defect
         is ment a problem which prevented the acceptance of
         the test.


         Also problems encountered during the test were divided
         into two other categories:

         o   Board failures
         o   System level failures

         Board failures were corrected immediately by replacement
         of the board. System level failures were corrected
         after the first test was completed and a retest was
         performed.



4.       T̲E̲S̲T̲ ̲C̲O̲N̲D̲U̲C̲T̲O̲R̲S̲ 



         The following test team conducted the test:

         [strup, Thorvald           SHAPE Representative (GQAR)
         Villadsen, Carsten         Test Engineer, CR H/W
         Villadsen, Erik            CR QA H/W 

         CR QA maintained the official copy of the test results.